Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
Издательство: Техносфера, 2009 г.

В книге освещается тема по практическому применению сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. Первая часть книги содержит описание основных принципов и устройств, которые используются в сканирующей электронной микроскопии. При этом вся информация представлена в достаточно сжатом виде таким образом, что этого в полной мере достаточно для того, чтобы понять возможности данного метода. Вторая часть содержит достаточно подробные и систематизированные примеры применения на практике сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом.

Примеры дают максимально полное представление о разных типах задач, которые решаются при помощи данного метода. Книга предназначена для студентов, аспирантов, которые обучаются по данной специальности, а также для всех, кого интересует данный метод.